ZK200涂層測厚儀采用磁性和渦流兩種測厚原理方法，選擇相應(yīng)的探頭，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。配合先進的實時溫度補償技術(shù)，實現(xiàn)測量

存儲容量500組

采用軍工級ABS強塑外殼，小巧、便攜、堅實耐用，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動、沖擊和電磁干擾

產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4957-1985 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀

測量范圍：標(biāo)準(zhǔn)探頭0-1500um;選配探頭0-10000um

示值精度:±(2%H+1)um; H為被測涂層厚度

存儲容量:可存儲500組（測量時間、測頭類型等信息）

通訊接口：USB接口可與計算機連接、通訊

測量模式：單點測量模式、掃描測量模式、差值模式、平均值模式

基體厚度(磁感模式0.5 mm,渦流模式0.3 mm)

整機重量：300g

儀器主機、鐵基測頭、涂層測厚基體塊、標(biāo)準(zhǔn)厚度試片、通訊電纜1根、電池、儀器箱、說明書以及隨機資料等