一、智能電子鎖壽命耐久性試驗(yàn)裝置概述：

智能電子鎖壽命耐久性試驗(yàn)裝置完全滿足GA 374-2001 電子防盜鎖，GA 701-2007 指紋防盜鎖通用技術(shù)條件，GB 21556-2008 鎖具通用技術(shù)條件，JG/T 394-2012，IEC 62692數(shù)字門(mén)鎖系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)，UL294門(mén)禁系統(tǒng)，UL1037，BHMA A156.25，BHMA A156.13，BHMA A156.36等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)要求。專(zhuān)為密碼電子門(mén)鎖，指紋電子門(mén)鎖，刷卡智能門(mén)鎖研發(fā)設(shè)計(jì)的一體化壽命測(cè)試系統(tǒng)。APP臨時(shí)密匙開(kāi)門(mén)、指紋開(kāi)門(mén)、鑰匙開(kāi)門(mén)、藍(lán)牙開(kāi)門(mén)、密碼開(kāi)門(mén)，磁卡開(kāi)門(mén)，無(wú)論您測(cè)試的鎖是采用哪種開(kāi)門(mén)方式我們都能為您測(cè)試。

二、測(cè)試步驟及技術(shù)指標(biāo)：

1、指紋開(kāi)鎖測(cè)試流程：

A.上提外把手打出方舌

B.門(mén)內(nèi)保險(xiǎn)鈕打出保險(xiǎn)

C.向上推開(kāi)外殼滑蓋上電

D.按壓指紋鍵

E.下壓把手

F.移動(dòng)模擬門(mén)開(kāi)門(mén)

G.向下推開(kāi)外殼滑蓋上電

H.把手復(fù)位,機(jī)械臂施加50N力關(guān)上模擬門(mén)

2、密碼開(kāi)鎖測(cè)試流程：

A.上提外把手打出方舌

B.門(mén)內(nèi)保險(xiǎn)鈕打出保險(xiǎn)舌

C.向上推開(kāi)外殼滑蓋上電

D.按壓虛擬密碼鍵

E.下壓把手

F.移動(dòng)模擬門(mén)開(kāi)門(mén)

G.向下推開(kāi)外殼滑蓋上電

H.把手復(fù)位, 機(jī)械臂施加50N力關(guān)上模擬門(mén)

3、磁卡開(kāi)鎖測(cè)試流程：

A.上提外把手打出方舌

B.門(mén)內(nèi)保險(xiǎn)鈕打出保險(xiǎn)舌

C.向上推開(kāi)外殼滑蓋上電

D.刷卡

E.下壓把手

F.移動(dòng)模擬門(mén)開(kāi)門(mén)

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