XRAY無損探傷技術(shù)是一種在不損壞被檢物體前提下，利用X射線穿透力與物質(zhì)密度差異，檢測材料內(nèi)部缺陷（如裂紋、氣孔、夾雜物等）的技術(shù)。其原理基于X射線穿透物質(zhì)時，不同密度材料對射線吸收程度不同，通過平板探測器接收信號并轉(zhuǎn)換為圖像，從而直觀呈現(xiàn)內(nèi)部結(jié)構(gòu)3。該技術(shù)兼具高精度、非侵入性及材料普適性，已成為現(xiàn)代工業(yè)質(zhì)量控制的關(guān)鍵手段